化合物半导体晶圆氧化炉

化合物半导体晶圆氧化炉
化合物半导体晶圆氧化炉
半导体热处理设备

化合物半导体晶圆氧化炉

化合物半导体晶圆氧化炉分为立式和卧式高温炉管设备,主要用于Si、SiC晶圆的高温热氧化工艺、GaAs/InP晶圆的表面钝化氧化、以及氧化层生长、退火等工艺。设备支持干氧、湿氧、水汽氧化等多种氧化方式,温度控制精确,氧化层厚度均匀性好,可满足功率器件栅氧生长与表面钝化的工艺要求。

主要技术特点

  • 专为SiC高温氧化设计,最高工作温度1650℃,支持长时间高温氧化运行
  • 4区独立控温,恒温区长度400~800mm,温场均匀性优异
  • 支持干氧氧化、湿氧氧化、氢氧合成氧化、水汽氧化等多种氧化模式
  • 配备高精度水汽发生系统,水汽浓度精确可控,氧化层生长速率稳定
  • 双层石英管/SiC管结构,内管保证层流气流,外管保证安全密封
  • 氧化前/后原位退火功能,可在同一炉管内完成氧化+退火工艺,减少晶圆污染
  • 支持H₂、N₂、O₂、Ar等多种工艺气体,配备尾气处理与安全联锁系统
  • 全自动舟传送系统,支持悬臂桨自动进出舟,减少人工操作与颗粒污染

核心性能指标

参数项技术指标
适用晶圆尺寸4英寸、6英寸、8英寸
工艺温度范围600-1650℃
常用氧化温度1100-1500℃(SiC)
控温精度±0.1℃
恒温区温度均匀性≤±1℃/1000mm
氧化层厚度均匀性片内≤±2%,片间≤±3%,批间≤±3%
氧化层击穿电场≥10MV/cm(SiO₂/SiC)
单批处理量50~150片/批(6英寸),50片/批(4英寸)
升温速率0.1-20℃/min,可编程
气体路数6-8路MFC控制,精度±1%F.S.
颗粒污染≥0.2μm颗粒≤20颗/片
金属污染≤5×10¹⁰atoms/cm²
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